Aehr/测试系统

Aehr/测试系统品牌介绍

Aehr Test Systems于1977年5月25日在加利福尼亚州成立。公司开发、制造和销售的系统旨在降低测试成本，并对同质和异构逻辑和存储器集成电路（IC）、传感器和光学设备进行可靠性筛选和压力测试、老化或循环测试。这些系统可用于同时进行封装集成电路、单个裸芯片或仍处于晶圆形式的集成电路的并行测试和老化。不断扩大的汽车、移动、网络和电信市场要求集成电路满足更高的质量和可靠性规范。